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近場掃描光學(xué)顯微鏡NSOM也習(xí)慣稱為掃描近場光學(xué)顯微鏡SNOM，是用于納米材料表征*可獲得優(yōu)于光波長分辨率的手段。通常與原子力顯微鏡AFM結(jié)合使用，因此可以獲得材料光學(xué)與形貌相關(guān)的信息。

近場掃描光學(xué)顯微鏡NSOM也習(xí)慣稱為掃描近場光學(xué)顯微鏡SNOM，是用于納米材料表征*可獲得優(yōu)于光波長分辨率的手段。通常近場掃描光學(xué)顯微鏡與原子力顯微鏡AFM結(jié)合使用，因此近場掃描光學(xué)顯微鏡可以獲得材料光學(xué)與形貌相關(guān)的信息。

Nanonics近場掃描光學(xué)顯微鏡：NANONICS是業(yè)界成立久并且對此類系列產(chǎn)品經(jīng)驗(yàn)豐富的公司之一，其產(chǎn)品榮獲過許多大獎(jiǎng)。在*的NSOM/AFM的整合操作系統(tǒng)推動(dòng)下，今天NANONICS繼續(xù)以*的優(yōu)勢和全面的系統(tǒng)著市場。NANONICS憑借實(shí)力和品質(zhì)，其產(chǎn)品涉足的領(lǐng)域從科研到工業(yè)，從生物學(xué)到半導(dǎo)體，從化學(xué)制品到無線電通訊，應(yīng)用范圍極其廣泛。